Untersuchungen über Durchbrucherscheinungen in Halbleitersperrschichten und deren Anwendungen, insbesondere von Tunneldioden

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Author
Melchior, Hans
Date
1965
Type
    Doctoral Thesis
Rights / license
In Copyright - Non-Commercial Use Permitted
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https://doi.org/10.3929/ethz-a-000087832
Publication status
published
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Contributors
Examiner: Borgnis, Fritz E.
Examiner: Strutt, Maximilian J. O.
Publisher
ETH Zürich
Subject
HALBLEITER + HALBLEITERTECHNOLOGIE (ELEKTROTECHNIK); FLÄCHENDIODEN/MIT PN-ÜBERGÄNGE (ELEKTRONIK); TUNNELDIODEN (ELEKTRONIK); SEMICONDUCTORS + SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY (ELECTRICAL ENGINEERING); JUNCTION DIODES/ON PN JUNCTION (ELECTRONICS); TUNNEL DIODES (ELECTRONICS)
Notes
Diss. Techn.Wiss. ETH Zürich, Nr. 3661, 0000. Ref.: Strutt, M.J.O. ; Korref.: Borgnis, F.E..
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