Untersuchungen über Durchbrucherscheinungen in Halbleitersperrschichten und deren Anwendungen, insbesondere von Tunneldioden
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1965Type
- Doctoral Thesis
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https://doi.org/10.3929/ethz-a-000087832Publication status
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ETH ZürichSubject
HALBLEITER + HALBLEITERTECHNOLOGIE (ELEKTROTECHNIK); FLÄCHENDIODEN/MIT PN-ÜBERGÄNGE (ELEKTRONIK); TUNNELDIODEN (ELEKTRONIK); SEMICONDUCTORS + SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY (ELECTRICAL ENGINEERING); JUNCTION DIODES/ON PN JUNCTION (ELECTRONICS); TUNNEL DIODES (ELECTRONICS)Notes
Diss. Techn.Wiss. ETH Zürich, Nr. 3661, 0000. Ref.: Strutt, M.J.O. ; Korref.: Borgnis, F.E..More
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