TanDEM-X: A single-pass SAR interferometer for global DEM generation and demonstration of new SAR techniques
Metadata only
Autor(in)
Alle anzeigen
Datum
2015Typ
- Conference Paper
ETH Bibliographie
yes
Altmetrics
Publikationsstatus
publishedExterne Links
Buchtitel
2015 IEEE International Geoscience and Remote Sensing Symposium (IGARSS)Seiten / Artikelnummer
Verlag
IEEEKonferenz
Thema
TanDEM-X; Bistatic SAR formation; SAR interferometry; Global Digital Elevation Model (DEM)Organisationseinheit
03849 - Hajnsek, Irena / Hajnsek, Irena
ETH Bibliographie
yes
Altmetrics