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Impact of memory voltage scaling on accuracy and resilience of deep learning based edge devices
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Autor(in)
Denkinger, Benoît W.
Ponzina, Flavio
Basu, Soumya S.
Bonetti, Andrea
Balási, Szabolcs
Ruggiero, Martino
Peón-Quirós, Miguel
Rossi, Davide
Burg, Andreas
Atienza, David
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Datum
2020-04
Typ
Journal Article
Zitate
9 Zitate in
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ETH Bibliographie
yes
Altmetrics
Publikationsstatus
published
Externe Links
https://doi.org/10.1109/MDAT.2019.2947282
Zeitschrift / Serie
IEEE Design & Test
Band
37
(2)
Seiten / Artikelnummer
84
-
92
Verlag
IEEE
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