Reliability Issues in Flash-Memory-Based Solid-State Drives: Experimental Analysis, Mitigation, Recovery

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Autor(in)
Cai, Yu
Ghose, Saugata
Haratsch, Erich F.
Luo, Yixin
Mutlu, Onur
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Datum
2018
Typ
    Book Chapter
Publikationsstatus
published
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Herausgeber(in)
Micheloni, Rino
Marelli, Alessia
Eshghi, Kam
Buchtitel
Inside Solid State Drives (SSDs)
Zeitschrift / Serie
Springer Series in Advanced Microelectronics
Band
37
Seiten / Artikelnummer
233 - 341
Verlag
Springer
Organisationseinheit
09483 - Mutlu, Onur / Mutlu, Onur  
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