Untersuchungen über Durchbrucherscheinungen in Halbleitersperrschichten und deren Anwendungen, insbesondere von Tunneldioden

Download
Abstract (PDF, 247.8Kb)
Fulltext (PDF, 5.490Mb)
Thumbnail
Open access
Autor(in)
Melchior, Hans
Datum
1965
Typ
    Doctoral Thesis
Rechte / Lizenz
In Copyright - Non-Commercial Use Permitted
Persistenter Link
https://doi.org/10.3929/ethz-a-000087832
Publikationsstatus
published
Externe Links
Printexemplar via ETH-Bibliothek suchen
Beteiligte
Referent: Borgnis, Fritz E.
Referent: Strutt, Maximilian J. O.
Verlag
ETH Zürich
Thema
HALBLEITER + HALBLEITERTECHNOLOGIE (ELEKTROTECHNIK); FLÄCHENDIODEN/MIT PN-ÜBERGÄNGE (ELEKTRONIK); TUNNELDIODEN (ELEKTRONIK); SEMICONDUCTORS + SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY (ELECTRICAL ENGINEERING); JUNCTION DIODES/ON PN JUNCTION (ELECTRONICS); TUNNEL DIODES (ELECTRONICS)
Anmerkungen
Diss. Techn.Wiss. ETH Zürich, Nr. 3661, 0000. Ref.: Strutt, M.J.O. ; Korref.: Borgnis, F.E..
Mehr
Alle Metadaten anzeigen
ETH Bibliographie
yes
Altmetrics